产品详情
产品细节:PXIE-5172 784224-01 PXIE-5172 高密度示波器
这倪PXIe-5172(零件号:784224-01, 784225-01, 784226-01) 高密度示波器使用测量和自动化浏览器(MAX)来配置国家文书硬件。MAX通知其他程序哪些小工具驻留在框架中以及它们是如何排列的。因此,MAX引入了仪器设计库和NI-SCOPE驱动软件。这PXIe-5172模块在工厂远程校准。然而,用户应该在任何伴随的情况下执行自对准:
介绍完之后镍PXIe-5172第一次在它的底盘上。
安装、卸载或移动任何框架模块后。
当框架处于周围温度发生变化的域中,或者模块温度与上次自动校准时的温度相差超过5°C时。
定期调整因产品老化而出现的小产量偏差。
为了实现其最小化、适应性强且功能强大的设计PXIe-5172示波器利用创新技术,包括利用快速串行接口JESD204B进行信息交换的低控制、高分辨率ADC,以及低成本的精英Xilinx vitality应用。在众多测试框架中,用户应该通过计算机化的信号来控制被测DUT或芯片。传统的自动化测试框架可以通过DUT模式排序,并在每个阶段进行必要的步骤。自动测试设备(ATE)框架不时会根据收到的评估意见,在DUT设置之间加入智能进展。
产品参数:PXIE-5172 784224-01 PXIE-5172 高密度示波器
模型 | PXIe-5172 |
---|---|
零件号 | 784224-01, 784225-01, 784226-01 |
制造商 | 国家文书 |
类型 | PXI示波器 |
最大带宽 | 100兆赫 |
电压输入通道 | 4或8 |
最大采样率 | 250毫秒/秒 |
规模 | 7.3 x 0.8 x 5.1英寸 |
重量 | 4通道型号:15.8盎司;8通道型号:16.3盎司。 |
PXIE-5172 784224-01 PXIE-5172 高密度示波器应用领域:
PXIe-5172 PXI示波器作为一款高性能的测试与测量设备,在多个领域中发挥着关键作用。以下是其应用领域的详细概述:
- 电子测试与验证:
- PXIe-5172示波器能够采集并分析时域和频域模拟信号,为电子工程师提供精确的测试数据。
- 它具有高达12.5 GS/s的采样速率和5 GHz的模拟带宽,适用于高速电子信号的测试。
- 灵活的耦合和电压范围设置,使其能够适应不同的测试需求。
- 交通与汽车领域:
- 在汽车制造和测试中,PXIe-5172可用于发动机控制系统、传感器测试等关键应用。
- 它的高密度PXI示波器设计,具有八个同步采样通道,能够同时监测多个信号,提高测试效率。
- 航天与国防:
- 在航空航天领域,PXIe-5172的高性能示波器功能可用于测试复杂的飞行控制信号和传感器信号。
- 它的可编程FPGA功能允许用户自定义采集、触发、信号处理和数据流盘,满足特定测试需求。
- 通信与网络:
- PXIe-5172示波器可用于通信系统中的信号测试和验证,如调制解调器的测试、网络传输分析等。
- 它能够捕捉高速数字信号,提供精确的时间戳分辨率,确保通信系统的稳定性和可靠性。
- 教育与科研:
- 在教育和科研领域,PXIe-5172示波器为学生和研究人员提供了一个强大的实验平台。
- 通过研究和实践,可以加深对信号处理、波形分析和测量技术的理解。
- 其他工业应用:
- 除了上述领域外,PXIe-5172示波器还广泛应用于电气、能源、环境监测等多个工业领域。
- 其高性能和可靠性为各种工业自动化和智能测试系统提供了有力支持。
总结来说,PXIe-5172 PXI示波器以其卓越的性能、灵活的配置和广泛的应用领域,在电子测试、交通汽车、航天国防、通信网络等多个行业中发挥着重要作用。无论是高速信号的采集与分析,还是复杂系统的测试与验证,PXIe-5172都能提供可靠、高效的解决方案。
Product Description
The NI PXIe-5172 (Part Numbers: 784224-01, 784225-01, 784226-01) High-Density Oscilloscope uses Measurement and Automation Explorer (MAX) to configure the National Instruments hardware. MAX informs other programs about what gadgets reside in the framework and how they are arranged. MAX is consequently introduced with the instrument design libraries and NI-SCOPE driver software. The PXIe-5172 module is remotely aligned at the factory. However, the user should perform a self-alignment in any of the accompanying circumstances:
• After introducing the NI PXIe-5172 for the first time in its chassis.
• After installing, uninstalling, or moving any frame module.
• When the framework is in a domain where the encompassing temperature shifts or the temperature of the module has digressed more than ± 5 ° C from the temperature in the last auto-calibration.
• Adjust periodically for small yield drifts that happen with the aging of the item.
To empower its minimized, adaptable, and powerful design, the PXIe-5172 Oscilloscope exploits innovative advances, including low-control, high-resolution ADCs utilizing the fast serial interface JESD204B for information exchange and elite, low-cost Xilinx vitality utilization. In numerous test frameworks, the user should control the DUT or chip under test through computerized signals. Conventional automated test frameworks can sequence through the DUT modes and make the necessary steps at each stage. Now and again, automated test equipment (ATE) frameworks incorporate intelligence to progress between the DUT settings according to the estimation esteems received.
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